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可溶性聚四氟乙烯样品的电荷贮存能力

    值得注意的是可溶性聚四氟乙烯表2中205℃空间电荷峰对应的活化能值比更高温峰的235℃峰的活化能要高,这似乎是不正常的。实际上,决定捕获在能阱中电荷稳定性除了活化能的高低外,可溶性聚四氟乙烯试图逃逸频率a.是另一个决定电荷稳定性的重要参数。表中可见,可溶性聚四氟乙烯2050C峰的活化能虽比2350C峰的活化能高一些,但2050C峰相应捕获在能阱中载流子的a.比235℃的要高两个数量级,可溶性聚四氟乙烯这说明205℃的捕获载流子脱阱概率要比2350C峰的高得多,这种现象在其它材料中也有出现。
    从图6的TSD曲线中我们看到,可溶性聚四氟乙烯在不同的高温下注极后的1460C空间电荷峰都已大大减小甚至消失,而仅仅是2350C的高温峰保留下来。因此在高温下的电晕电对延长Te-flon 可溶性聚四氟乙烯驻极体的电荷存贮寿命是十分有益的。这也进一步说明了Teflon 可溶性聚四氟乙烯在高温下具有极好的电荷贮存能力。比较图5曲线说明在aoo0C高温下电晕充电可溶性聚四氟乙烯样品的电荷贮存能力比常温充电的有明显的改善。例如200 0C充电样品,当TSD侧量中升温到235`C时,在样品内的剩余电荷是同样样品常温充电时的1.8倍。这证实了在适当的高温下充电的Teflon 可溶性聚四氟乙烯驻极体薄膜,深阱载流子对浅阱载流子的比,比常沮注极的Tefloa 可溶性聚四氟乙烯有明显的增加。

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