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可溶性聚四氟乙烯老化时的等效面电荷密度

    图8是常温电晕注极后的Teflon可溶性聚四氟乙烯膜在150℃高温下老化时的等效面电荷密度。:随时间的变化曲线。当老化时间:。=62小时时,a:开始下降,这标Teflon 可溶性聚四氟乙烯的脱阱载流子在I500C经过平均渡越时间:0=2 x 10:,沙后,已穿越样品到达背电极和镜像电荷复合,引起a:的明显下降。而在同样条件下的TeflonFEP的toilxl0,秒比Teflon  可溶性聚四氟乙烯快一倍,这再次显示Teflon 可溶性聚四氟乙烯在高温下贮存电荷的突出稳定性。4)25}m厚的Teflon 可溶性聚四氟乙烯 LP型膜的不同能阱沿样品厚度方向的几何分布。
    为了研究Teflon 可溶性聚四氟乙烯的不同能级的几何分布,样品分别用常温电晕充电和不同束能(5.0,10.0,20.0,30.0,40.0,47.5keV)电子束充电具有同样电荷量(Q=4.4 x 10-'C)的单能电子束轰击。充电后的样品,再分别用热脉冲方法测量其平均电荷重心和用热释电方法测量其电流温度谱线,实验结果指出(图9),TSD电流谱线中1460C低温空间电荷峰(对应能阱约为1.OeV)只有在电晕充电样品的TSD谱线中才存在(Teflon 可溶性聚四氟乙烯的常温电晕充电的电荷重心位于在距充电自由面约0.6}u二的表面或近表面域),而东能为5,0^-47.5keV的单能电子束充电(其电菏层分别位于离充电自由面从1.2到22. 5} m的不同层深体内)的热释电电流谱中1460C峰消失。这说明对应于1460C峰的1.OeV的能阱只位于。

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